<<<——SciAps-XRF手持式光譜金屬分析儀介紹——

X - 300 SciAps-XRF手持式光譜金屬分析儀擁有更快的分析速度和更準確的分析結果。它通過使用高性能的SDD探測器和脈沖處理電子，加上一個高度優(yōu)化的X射線管和探測幾何，以大限度地提高計數(shù)率。

對于合金測試，X - 300可檢測幾乎所有合金，并在鎂鋁合金檢測方面擁有無語倫比的高性能。 高分辨率的探測器對超合金、高溫度和其他特殊合金具有很高的性能。該分析儀的設計優(yōu)化了鎂合金的檢測，對快速準確的鋁合金分析至關重要。

X - 300擁有同類型產品中更快的分析速度和更準確的分析結果。

它通過使用高性能的SDD探測器和脈沖處理電子，加上一個高度優(yōu)化的x射線管和探測幾何，以大限度地提高計數(shù)率。
對于合金測試，X - 300可檢測幾乎所有合金，并在鎂鋁合金檢測方面擁有無語倫比的高性能。

高分辨率的探測器對超合金、高溫度和其他特殊合金具有很高的性能。該分析儀的設計優(yōu)化了鎂合金的檢測，對快速準確的鋁合金分析至關重要。

地球化學應用x - 300提供了更低的檢出限（LOD）和更高的測量精度。

分析儀采用基本參數(shù)法（fundamental parameters）、康普頓標準化法（Compton Normalization）及經驗系數(shù)法（empirical calibration）校正。符合美國EPA Method 6200使用規(guī)范要求。